A- A+

《半導體》穎崴雙箭齊發 搶AI測試商機

時報新聞   2026/08/24 07:52

【時報-台北電】AI晶片朝向高功耗、高針數及大型封裝發展,半導體測試難度同步攀升,穎崴(6515)持續擴大高階產品布局,除加速提升AI、HPC應用高階測試座(Test Socket)產能,同步建置MEMS探針卡研發及製造能力。隨全球CSP業者擴大AI基建投資,看好高階封裝帶動測試需求升級,將成今年第四季及明年重要成長動能。

 穎崴目前主要產品線涵蓋邏輯測試座及晶圓測試垂直探針卡(VPC),應用範圍包括晶圓測試(WLCSP)、系統級測試(SLT)、成品測試(FT)及老化測試(Burn-in Test),從晶圓端一路延伸至成品與可靠度測試,形成完整測試介面產品布局。目前並已跨足北美、東南亞、日本及韓國市場。

 AI晶片快速演進正推升測試介面的技術門檻。隨GPU及AI ASIC運算效能持續提高,晶片封裝尺寸、功耗及I/O數量同步增加,測試介面也必須因應超大封裝、超大功耗及高針數需求。穎崴因此持續調配及擴充高階測試座產能,希望縮短客戶導入及量產所需時間。

 另一項布局重點則是MEMS探針卡。公司除既有Test Socket優勢外,目前正同步建置MEMS產品線研發及製造產能,顯示產品布局進一步向晶圓測試端延伸。隨AI、HPC晶片設計複雜度提高,加上先進封裝導入量產,晶圓測試重要性提高,測試介面廠商也由單一測試環節朝更完整解決方案發展。

 市場雖持續存在AI投資是否過熱的討論,但全球主要CSP業者仍擴大資本支出,資料中心除增加GPU建置,也同步���資液冷散熱等新一代基礎設施,以因應生成式AI與大型語言模型快速增加的算力需求。對半導體供應鏈而言,AI基礎建設仍處擴張階段,高階運算晶片需求亦帶動後段封裝及測試規格持續升級。

 AI晶片從晶圓測試、系統級測試、成品測試到老化測試,測試環節及複雜度持續增加,測試介面已成為先進製程與先進封裝擴產的重要配套。穎崴由Test Socket進一步強化MEMS探針卡,加上全球客戶及在地服務布局,未來營運觀察重點將由單純AI需求成長,轉向高階測試產品產能開出速度,以及晶圓端與成品端產品線能否同步擴大市場滲透率。(新聞來源 : 工商時報一張瑞益/台北報導)

注目焦點

推薦排行

點閱排行

你的新聞